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半導體 測試探 針

「半導體 測試探 針」文章包含有:「了解測試解決方案構造及類別」、「彈簧探針」、「探針卡」、「探針卡接觸探針的觀察、量測」、「新型探針卡技術介紹」、「晶圓測試探針卡設計與製造」、「測試治具及測試探針類別[設計製造&購買]」、「精研微科技股份有限公司」、「雙頭測試探針」

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了解測試解決方案構造及類別
了解測試解決方案構造及類別

https://www.ccpcontactprobes.c

CCP中探針提供全方位的測試解決方案,0.7mm極小間距IC探針、老化測試、晶圓級封裝測試、一般終端測試、PCB測試探針等多樣方案,富士康、Intel、Skyworks 和SPIL 等 ...

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彈簧探針
彈簧探針

https://www.kita-mfg.com

專為半導體檢測,故使用彈簧探針。讓彈簧探針在測試廠出貨之前針對IC電性部份做全面性的接觸檢查。

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探針卡
探針卡

https://www.chpt.com

探針卡是測試機台與待測晶圓間相當重要的媒介工具,透過探針卡之探針(Probe)與晶圓上的銲墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸後,將電性信號傳送到測試機台分析其功能與特性,判別 ...

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探針卡接觸探針的觀察、量測
探針卡接觸探針的觀察、量測

https://www.keyence.com.tw

針對半導體元件電氣測試中使用的探針卡與接觸探針,說明其基礎知識與壽命,以及觀察、量測的重要性。此外也將介紹利用最新4K數位顯微鏡觀察的案例,以及非接觸3D尺寸量 ...

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新型探針卡技術介紹
新型探針卡技術介紹

https://www.materialsnet.com.t

此探針卡可使成品的. 良率由原來的70%提升至90%,對於. 此20%的良率貢獻度對1%良率差異都. 錙銖必較的半導體廠而言,影響甚. 巨,如圖一所示。 簡言之,探針卡是一測試機台 ...

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晶圓測試探針卡設計與製造
晶圓測試探針卡設計與製造

https://college.itri.org.tw

在半導體製程中,晶圓在前端製程完成但尚未進行後段切割封裝之前,必須先以探針卡對晶圓階段的IC進行電氣特性測試,除了可以將結果回饋給前段製程,進行微調,以確保晶圓的 ...

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測試治具及測試探針類別[設計製造& 購買]
測試治具及測試探針類別[設計製造& 購買]

https://www.ccpcontactprobes.c

中國探針擁有多年專業測試針及治具設計及製造經驗,提供多樣的測試針及治具類別,例如IC測試針、軟性電路板FPC、電池、記憶體解決方案。另外針對5G趨勢也提供77 GHz高 ...

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精研微科技股份有限公司
精研微科技股份有限公司

https://www.seiken.com.tw

1. 製造微小彈簧探針之製作技術 · 2. 製作高精度測試頭之精密加工及量測技術 · 3. 擁有高度技術可提供客戶所需測試用治具 · 4. 擁有可製作高精度測試頭之精密組裝技術 · 5.

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雙頭測試探針
雙頭測試探針

https://web.hocom.tw

雙頭測試探針 · 原產地:台灣 · 材質:鈹、銅 · 高精密高產品半導體測試用元件(Pogo Pin, Plunger) · 國內外客戶一致好評,因為我們只提供最精密的車床元件, · 歡迎聯絡我們, ...